Al Johnson Space Center della NASA, i team hanno sviluppato e brevettato due tecnologie per migliorare la valutazione non distruttiva (NDE), una per aumentare la portata e la risoluzione della termografia a infrarossi flash e una per ottimizzare le impostazioni della radiografia a raggi X per la verifica della sensibilità delle crepe.
Una semplice configurazione della tecnologia. Credito immagine: NASA
Il Technology Transfer Office della NASA vorrebbe identificare e concedere in licenza non esclusiva a organizzazioni o team in grado di far maturare queste tecnologie, con l’obiettivo a lungo termine di commercializzarle per il mercato statunitense. Gli intervistati indicheranno nel modulo di risposta quale delle due tecnologie desiderano concedere in licenza.
I team della NASA prevedono che gli intervistati concederanno in licenza solo una tecnologia o l’altra, anche se sono benvenute risposte separate per ciascuna tecnologia da parte di una singola organizzazione. Tieni presente che la NASA non produce prodotti per la vendita commerciale.
Massimizzare la termografia flash NDE:
IL Suite tecnologica NDE per termografia flash fornisce miglioramenti efficienti ed economici durante la post-elaborazione dei dati ed è compatibile con i prodotti di termografia IR commerciali. Fornisce funzionalità di analisi dei dati sia quantitative che qualitative e rilevamento e caratterizzazione affidabili di anomalie nell’hardware composito e in alcuni componenti metallici.
Un esempio di immagine generata con questa tecnologia. Credito immagine: NASA
Migliora la precisione e l’efficienza dell’operatore aggiungendo il metodo della termografia transitoria per rilevare più rapidamente i difetti sulle parti più spesse e il metodo della termografia con blocco per fornire una migliore risoluzione dei difetti utilizzando un ciclo di alimentazione sinusoidale.
Questa tecnologia è a livello di preparazione tecnologica (TRL) pari a 7 (dimostrazione del prototipo del sistema in un ambiente operativo).
Ottimizzazione della radiografia a raggi X NDE:
IL Requisiti di rilevamento delle crepe a raggi X basati su modello La tecnologia determina se una specifica configurazione a raggi X è in grado di rilevare crepe di varie dimensioni all’interno dei materiali utilizzando la modellazione dei parametri delle dimensioni dei difetti.
Questi modelli consentono agli utenti di ottimizzare le impostazioni della radiografia a raggi X, per il rilevamento di crepe e difetti simili a crepe, per penetrare vari materiali per mostrare strutture interne come il tubo filettato mostrato di seguito.
La capacità di quantificare la sensibilità di rilevamento delle crepe apre la strada alla definizione dei requisiti di rilevamento delle crepe per la valutazione non distruttiva (NDE) tramite radiografia a raggi X delle parti prodotte. L’industria potrebbe desiderare miglioramenti dei requisiti di settore per il rilevamento affidabile delle crepe mediante radiografia a raggi X e strumenti migliorati di ottimizzazione della configurazione dei raggi X basati sulla modellazione software, come questa tecnologia. Questa tecnologia è a livello di preparazione tecnologica (TRL) 6 (modello di sistema/sottosistema o prototipo dimostrato in un ambiente operativo).
Le candidature a questa sfida devono pervenire entro il 1° dicembre 2023.
Fonte: Nove attrazioni
Da un’altra testata giornalistica. news de www.technology.org
